傑出產品獎｜先進設備及智慧製造類 | 晶彩科技股份有限公司 | Micro LED巨量轉移後檢量測設備

得獎技術簡介    

晶彩科技的Micro LED巨量轉移後檢量測設備，可突破傳統檢測限制，於檢測速度、精度及基板適應性等方面實現顯著躍升，有效應用於巨量轉移製程，監控Micro LED品質，大幅提升生產良率並降低成本，為Micro LED產業提供高效、精準的品管方案。

得獎技術創新特色  

此設備可針對巨量轉移製程中，可能出現的Micro LED晶粒缺陷、位移等狀況，提出高效檢量測解決方案。整合先進光學檢測與AI技術，實現數千萬微米級晶粒之高速檢測與精準量測，並提供多樣化的數據分析功能，有效提供製程優化依據，以進行製程改善評估。

 

得獎技術應用   

Micro LED一次巨量轉移至Carrier後(COC1)及二次轉移至Carrier後(COC2)的晶粒缺陷監測與晶粒位置量測。