傑出產品獎｜智慧製造及設備類 | 均豪精密工業股份有限公司 | 次世代顯示器電性缺陷檢查設備

得獎技術/產品簡介    
本產品的載具與測試系統可對應次世代顯示器製程的電性/光性測試，並結合本公司研發團隊能力，提供給客戶更多元、客製化的精密設備。

得獎技術/產品創新特色    

• 多面向測試：電極正面、側面、背面測試、正背面對測、三面向測試整合皆可滿足。
• 陣列式微型 LED 光譜檢測系統模組開發與檢測方法。
• 陣列型微型LED對位檢測方法。
• 探針卡線上調針維修判定系統技術。
• 探針卡自動清針系統及其方法。
• 電晶體的漏電流檢測方法。
• Cell Panel定址運動模式位置補正及其方法。
• 探針確實接觸電極部方法。
• 探針卡自我校正系統及其方法。
• 探針卡更換後機構位置之補正方法及其量測裝置。

得獎技術/產品應用    
(1) 適用液晶面板偏貼前/偏貼後電性檢查與缺陷檢查
(2) 適用液晶面板Array段電晶體及線路製程後後電性檢查與缺陷檢查
(3) 適用Micro Led晶粒電性檢查與光性檢查
(4) 適用Micro Led顯示器驅動背板電性檢查與缺陷檢查